Case study: Payne’s Pecans finds hidden product defects with X-ray inspection / 案例研究:佩恩山核桃公司利用X射线检测发现隐藏的产品缺陷

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案例研究:佩恩山核桃公司利用X射线检测发现隐藏的产品缺陷

该公司近期开始使用WECO的Multiscan MXV-Bulk X射线检测系统,以提高产品质量、增加吞吐量并减少对手工分拣的依赖。

核心亮点 佩恩山核桃公司(Payne’s Pecans)成为北美首家安装MXV-Bulk X射线系统进行山核桃检测的企业,重点关注内部缺陷检测。该系统通过分析每颗坚果内部的密度差异来识别隐藏缺陷和异物,从而提高整体产品质量。安装后,该企业的分级分数从40分提高到44分,转化为每磅更高的收益和买家更强的信心。运营效率显著提升,吞吐量每小时增加2000至3000磅,且最终检查仅需一人。该系统易于使用,日常维护需求极小,且WECO提供出色的支持,使佩恩山核桃公司在没有技术人员的情况下也能轻松使用。

佩恩山核桃公司是一家家族拥有的山核桃清洁企业,每年为当地种植者处理多达200万磅带壳山核桃。创始人杰伊·佩恩(Jay Payne)从小就接触山核桃,那时他会在家族的果园里采摘坚果来赚取圣诞零花钱。

自从2004年在密苏里州里奇希尔(Rich Hill)开设佩恩山核桃公司以来,劳动力变得越来越难找,而买家对产品质量的要求也越来越高。去年,佩恩开始使用WECO的Multiscan MXV-Bulk X射线检测系统,以提高产品质量、增加吞吐量并减少对手工分拣的依赖。

“检测一直是这项业务中最困难的部分之一,”佩恩说。“找几个人站在桌旁手工分拣山核桃几个小时已经够难了,而且人眼能发现的也有限。我们需要一种更好的方法来识别内部产品缺陷。”

佩恩公司成为北美首家安装MXV-Bulk用于山核桃检测的运营企业。虽然光学分拣机可以识别颜色、大小、形状和表面状况等外部特征,但MXV-Bulk通过分析每颗坚果内部的密度差异来识别隐藏缺陷和果仁填充不足的问题。该系统还能检测出包括石头在内的致密异物,在山核桃离开工厂前增加了又一层产品保护。

在佩恩公司,MXV-Bulk安装在生产线的末端附近,在预清洁设备去除了大量轻质碎屑和明显的异物之后。当山核桃通过检测区时,通道皮带使其保持稳定并均匀分布以进行扫描。该系统分析X射线图像并触发气阀将不合格产品排出。

“最让我惊讶的是该系统能检测出我们以前根本看不到的东西,”佩恩说。“你可以从废料流中挑出一颗山核桃,看着它觉得没有任何问题。然后你把它砸开,却发现里面几乎没有或根本没有好的果仁。”

对于带壳山核桃,这些隐藏缺陷直接影响其价值。买家会对每批货物进行抽样,砸开代表性坚果并计算可食用果仁的百分比。安装MXV-Bulk后,佩恩公司的平均等级从40提高到44。“买家为壳里的东西买单,”佩恩说。“每提高1分就是2美分,从40提高到44就是每磅多8美分。在大批量货物中,这笔钱很快就能累积起来。”

一致性也随着等级的提高而改善。佩恩公司的A级批次现在含有不到1%的低等级杂质,而行业普遍接受的标准是2%到3%。

“机器每次都以相同的方式评估每颗山核桃,”佩恩说。“人会疲劳,不同的人能发现不同的问题。现在,有了我们的X射线系统,我们的检测变得更加一致。多年来一直从我这里进货的买家告诉我,这是他们见过的从这里出产的最好的产品。”

运营收益同样显著。在安装X射线系统之前,有六到八个人在生产线末端手工检查山核桃。现在,一个人在MXV-Bulk之后立即进行最终检查,几乎没有什么需要剔除的了。由于检测不再限制生产,佩恩估计吞吐量每小时增加了2000至3000磅。

尽管技术先进,佩恩表示操作该系统一直很简单。一旦确定了山核桃的设置参数,他几乎不需要调整系统,日常清洁主要包括擦拭可触及的皮带。这种简单性对佩恩来说很重要,因为他没有专门的技术人员。“很多人听到X射线就认为它会很复杂,但我们只需打开它就可以开始工作,”佩恩说。

“WECO是一个很好的合作伙伴。很高兴知道我可以拿起电话,他们会帮我解决问题。感觉他们是我们团队的一部分,”佩恩说。“鉴于目前的劳动力状况,如果不是找到了更好的检测处理方法,我不确定自己是否还会留在山核桃清洁行业。这个系统对我们来说意义太重大了。”

资讯来源

- www.processingmagazine.com (2026-09-14) - 原文:案例研究:佩恩山核桃公司利用X射线检测发现隐藏的产品缺陷 | Processing Magazine - https://www.processingmagazine.com/process-control-automation/article/55404284/case-study-paynes-pecans-finds-hidden-product-defects-with-x-ray-inspection