电离辐射Ionizing radiation
能量足以使物质电离的辐射。X 射线与 γ 射线属于具有电离能力的电磁(光子)辐射;射频干扰是另一类防护问题。
X 射线X-ray
由电子过程产生的高能光子辐射,例如 X 射线管中电子撞击靶材。其能谱取决于管电压与过滤。
γ 射线Gamma ray
通常由原子核跃迁发射的光子辐射,能量由核素决定。屏蔽应依据实际能谱与源几何选择,而不只看名称。
α 与 β 粒子Alpha and beta particles
α 粒子包含两个质子和两个中子;β 辐射由电子或正电子构成。X 射线产品指标不能证明对粒子辐射场的防护。
铅当量(mmPb)Lead equivalence (mmPb)
在规定测试条件下产生相同衰减的参考铅厚度。它不是材料的实际厚度、重量或含铅量,引用时应同时注明射线质量、方法与几何。
铅当量是怎样得出的
- 两条路径使用相同的射线质量(管电压、过滤)和相同的测量几何。
- 被测材料样品。
- 参考铅片,调整其厚度 d。
- 在相同探测位置测量透射。
- 透射相同时,该材料的铅当量记为 d mmPb。它不是材料本身的厚度、重量或含铅量。
另见:mmLE
mmLEmmLE
部分目录使用的铅当量标记,与 mmPb 表达同类概念。判断等级可否互换前,应确认束流条件与成品测试。
另见:铅当量(mmPb)
管电压(kV、kVp)Tube voltage (kV, kVp)
X 射线管的加速电压,决定能谱形态;kVp 表示峰值电压。它是设备设置,并非所有光子都具有同一能量。
管电流(mA)Tube current (mA)
与电子流及射线输出有关。过滤、曝光时间等设置同样重要,单一数值不能定义完整防护要求。
辐射质(射线质量)Radiation quality
描述射束能谱特征的条件组合,如管电压与过滤。标准参考辐射质(例如 GB/T 12162.1 中的 N 系列)使测试结果可以比较。
窄束与宽束Narrow beam and broad beam
改变散射射线到达探测器程度的测量几何。窄束、宽束与反向宽束结果不应混用;窄束并不表示能谱窄。
窄束与宽束测量几何
- 窄束:样品前后都有准直器,把射束限制成细束。
- 样品产生的散射大多到达不了小面积探测器。
- 宽束:照射野较宽,大面积探测器靠近样品。
- 部分散射被计入读数,因此宽束结果与窄束不同。比较材料时不要混用两种几何的数据。
面密度(kg/m²)Areal density (kg/m²)
单位面积的材料质量。同等覆盖面积下,内芯质量等于面密度乘以面积;只能在相同且经验证的防护要求与测试条件下比较。
衰减Attenuation
射线穿过材料后强度的降低,常以百分比表示。数值取决于射线质量、几何与受测样品。
半值层(HVL)Half-value layer (HVL)
使射束强度降低一半所需的材料厚度。它随能谱与几何变化,也用于表征辐射质。
光电吸收Photoelectric absorption
光子被吸收并释放电子的相互作用,在较低光子能量及高原子序数元素中较为重要。
康普顿散射Compton scattering
光子与电子碰撞后改变能量和方向,是散射射线的主要来源之一。
吸收边Absorption edge
光子能量刚超过某电子壳层结合能时吸收的突增。吸收边使材料响应随能量变化,多元素配方可据此围绕目标能谱设计。
特征 X 射线荧光Characteristic X-ray fluorescence
原子吸收光子后退激发射的次级 X 射线。在新莱福资料所述的双层结构中,靠身体一侧的铋层用于吸收前层稀土产生的荧光。
电子对产生Pair production
在原子核场中产生电子—正电子对,阈值为 1.022 MeV。它不是 120 kVp 诊断工况下的屏蔽机理。
散射辐射Scatter radiation
射线与患者、设备或周围环境相互作用后改变方向形成的辐射。防护毯、围领等产品需按操作的散射几何选择。
无铅屏蔽材料Lead-free shielding material
不以铅作为屏蔽组分的材料。“无铅”仅描述组成,不等于所有物质均无害、满足所有法规,或适用于所有射线源。
铅亚克力Lead acrylic
含铅的透明丙烯酸材料,用于同时需要观察和屏蔽的场合,属于含铅产品。
IEC 61331-1IEC 61331-1
测定医用诊断 X 射线防护器具材料衰减性能的国际标准(2014 版)。提到标准名称不等于获得认证。
资料依据
定义依据新莱福《防辐射常见问题汇总》、无铅屏蔽技术演示资料及下列公开参考资料整理,资料核对:2026-09-24。产品数值请查阅对应型号资料。

